◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇

X線CT装置の新機能

発行：エスオーエル株式会社
https://www.sol-j.co.jp/

連載「高鍋鮎美の三次元測定機って何なの？」
2011年1月20日号　VOL.017

平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。
三次元測定機やアプリケーション例などをテーマに、
無料にてメールマガジンとして配信いたします。

◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇



皆さん、こんにちは。

先週ドイツWerth本社から、アジア営業担当者が来日しました。

今回、年が明け2011年1月からWerth社で幾つか新しい機能が加わったとの事で、
説明を受けましたので、その中からX線CT装置に関する2つの機能を
皆さんにもご紹介したいと思います。



１．Local CT
これは、
サンプルのある特定の部分だけ高分解能で測定する事を可能にする機能です！！


X線CT装置では通常測定の大前提として、
サンプル全体がX線光源のビーム内に収まらないといけません。

これは、サンプルを360度回転し、X線の透過を計算する事によって、
サンプルの全体形状をコンピュータ上で形成する為です。

サンプルが大きくてビームからはみ出してしまうと、
360度の全データが得られずに、計算出来なくなってしますのです。


この課題を克服したのが、以前もご紹介しましたが、
Werth社独自の分割スキャン機能「ラスタートモグラフィー」ですが、
今回さらに新しく加わったのが、この「Local CT」と呼ばれる機能です。

「Local CT」を使うには2回、スキャンが必要です。
1回目でサンプルの全体像を撮り、
2回目に高分解能で測定したい部分だけがX線ビームに収まるようにセットしてスキャンします。

この2回のスキャン結果をコンピュータ上で計算し、
必要な部分だけ、高分解能で測定したデータを得る事が出来るのです！！

この技術を持っているのはWerth社だけです！！




２．Helit CT
「Helit」とは、日本語で「らせん」という意味があります。
「Helit CT」とはサンプルをらせん状に回転させ動かしながらスキャンしていく機能です。

例えばサンプルが円筒状等、縦方向に長い場合、
X線ビーム内に収める為にX線光源から出力されるX線の角度を大きくする事が考えられます。

しかし、ここで問題が生じます。
角度を大きくすれば、その分「cone effect」というエラーが大きくなり画像がぼけてしまいます。

この課題を解消する為に考えられた技術が「Helit CT」です！
X線の角度を大きくしなくても、サンプル自体を回転させながら上下させ
X線ビームに当たるように動かします。

これによって「cone effect」を軽減する事が出来、より綺麗な画像が得られます！！




以上、今回は「X線CT装置の新機能」をお届けしました。


--
A.T


☆TomoScope専門サイトはこちら☆