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2012.06.30
D-0057. 1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫! — FN
◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇ 1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫! 発行:エスオーエル株式会社 https://www.sol-j.co.jp/ 連載「知って得する干渉計測定技術!」 2012年6月30日号 VOL.057 平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。 干渉計による精密測定やアプリケーション開発情報などをテーマに、 無料にてメールマガジンを配信いたしております。 ◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇ 皆様こんにちは! (( メルマガ登録会員の皆さまは、エスオーエル名物「○○○ごと」をご覧頂けます! )) 今回のメルマガのテーマは 『1つのワークに複数面測定したい箇所があっても大丈夫!』です。 機械部品や半導体基板等は測定したい面が1つの場合が多いです。 しかし、ワークによって同一平面上で複数面の平面度を測定し、 全面を管理する必要があるものもあります。 もちろん、FlatMasterであれば、一つ一つの面の平面度を個別に 1つの測定データとして出すことも可能です。 また、マスキング機能を使用して、必要な面だけを抽出することも 可能です。面状態は、面の粗いラップ面からポリッシュ・ミラー面 まで測定可能です。 測定面が一つであろうが複数個あろうが、測定面が大きかろうが小 さかろうが測定時間は同じです。(測定範囲内であるが条件ですが) ①ワークのセットは測定治具の上にポンッと置くだけ。参照平面 との平行だしが簡単でレベル出しの必要なし! ②測定ボタンをクリックするだけで、全面一括でデータ取得可能! ③約10秒で測定・解析が完了。約30秒で測定データ出力可能! ④丸でも三角でも四角でもどんな形のサンプルでも問題なし! この4項目を満たしているのはFlatMasterシリーズのみです!! ご興味を持っていただけましたら、 エスオーエルにご相談下さい。一緒に問題解決していきましょう! また、こんな事はできるの?というご質問もお待ちしております。 今回のメルマガを読んで、ご興味を持って頂ければ幸いです。 最後まで見てくださった方々、ありがとうございます! -- F.N