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干渉の条件

発行：エスオーエル株式会社
https://www.sol-j.co.jp/

連載「知って得する干渉計測定技術！」
2013年12月30日号　VOL.077

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皆様こんにちは。

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今月は【干渉の条件】についてお話します。

干渉の条件ってなんだ？？？と社長から質問されました。
え・・・・・△□○×÷＋☆○◇□…

営業技術としてお客様のところで装置の搬入・トラブルシューティング・トレーニングを
しているにも関わらず、的確にこたえられない自分。情けないです。

しかし、皆様は的確に言えますか？？以外と難しいですよね！？

干渉の条件は、
第1に、『1つの点光源から出る光が波面分割して(参照平面で)再度光が重なり、
 2つの光が平行光線になること』
[1つの点光源]、[波面分割]、[再度光が重なる]、[平行光線になる]、と全てのフレーズ
なくしては干渉は起こりません！

第2に、『時間コヒーレンスを短くすること』
時間コヒーレンスが長いと少しあとに入ってきた波の光と干渉を起こしてしまいます。
逆に短すぎても再度光が重ならなければ干渉は起こりません。

第3に、『参照平面とサンプルの間隔が狭いこと(⇒空間コヒーレンスが近いこと)』
参照平面とサンプルの間隔が離れすぎてしまうと、せっかく平行光線になれたとしても
遠すぎて干渉できなくなってしまうのです。

この上記3つの条件はとっても重要です。FlatMasterシリーズは
第1の点光源というのは半導体レーザーを使用しているのでクリア。
第2の時間コヒーレンスを短くも、レーザー光を回転ディスクで断片的にしているのでクリア。
第3の間隔が狭いことは、間隔を調整する調整ネジやハープがあるのでクリアです。

干渉は、空間コヒーレンスと時間コヒーレンスを両方満たして初めて起こる現象なんですね！
奥が深いです。。。もっと、勉強しないとですね！がんばります！


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 次回のメールマガジンにてお会いしましょう！


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F.N